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【試用至2025/06/30】Inspect with Full Text 科技及半導體研究全文資料庫

資料庫名稱:Inspect with Full Text 科技及半導體研究全文資料庫
試用區間:2025/03/31/-2025/6/30

※以本校權限連線圖書館資料庫方法如下:
1. 本館首頁→查詢→電子資資源入口
2. 輸入資料庫名稱進行檢索,如「Inspect」→
3. 選取檢索結果中的資料庫名稱→
4. 若要求登入,請以「校務行政系統」帳號登入→
5. 連線使用。

※資料庫簡介:由英國著名科技工程單位
Institution of Engineering and TechnologyIET)所創建的資料庫,為物理學、電子、通信、控制工程、電腦、資訊技術、製造、生產和機械工程方面的世界科學技術論文提供研究發展方向與趨勢。收錄內容超過600萬個項目,包括IEEEAIPAIPSPIE等學會出版社,也包括ElsevierSpringer等商業出版社、大學出版社和政府機構等同儕評鑑出版品,以及預先出版品、書籍、論文、專利、報告和影片等重要資源。除了核心主題領域的出版項目,Inspec還提供了專業分類、多學科專業索引典,加上相關學科的大量文獻,例如材料科學、海洋學、核工程、地球物理學、生物醫學工程等,為不可或缺的專業檢索研究工具。

點閱 點閱:18 更新時間 更新時間:2025-03-31 10:38 發佈時間 發佈時間:2025-03-31 10:38 發佈單位 發佈單位:圖書館